欢迎来到【深圳市卓茂科技有限公司】官方网站!

返回上一页

X-RAY检测为什么能够取代传统芯片检测方式?

IC芯片,大家或多或少有所了解吧?我们手上的手机、使用的电脑等器件里都有芯片,也称为集成电路。小小的一块芯片,其实包含了很多东西,比如电容、电阻等,所有的元件在一块基片上组成了一个整体,如此精密的电路,如果产生不良该如何检测呢?

image.png 

传统的芯片检测方法是把芯片层层拨开,使用显微镜对芯片的每一层表面进行观察,这种方式不仅不能全面地观察芯片缺陷,还会对芯片造成一定的损坏。

而现在流行的X-RAY无损检测,不仅不会破坏芯片,还可以实现检测,完全解决了传统的芯片检测方式的弊端。X-RAY检测是利用X射线的穿透性,穿透被检物后在成像系统上显示出高清图像,人们可以清楚地看到芯片缺陷的位置以及大小。

image.png 

X-RAY无损检测除了能够应用在芯片检测上,还可以应用于LED灯珠、锂电池以及半导体等缺陷的检测。

那么以上内容就是X-RAY检测为什么能够取代传统芯片检测方式的相关解答,希望对大家有所帮助,有需要X-RAY检测设备的朋友可以联系我们哦~



深圳市卓茂科技有限公司  All Rights Reserved   备案号: 粤ICP备10051678号      法律声明   隐私声明

返回顶部