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X-RAY检测与AOI检测有哪些区别?

文章出处:卓茂新闻 责任编辑:深圳市卓茂科技有限公司 发表时间:2023-02-13
  

  X-RAY检测和AOI检测都是由自动检测系统来完成的,它们都可以用于检测电子元器件的质量。两者在检测目标和检测原理上都存在着差异,这是它们之间最明显的区别。
  X-RAY检测主要是通过X射线来检测电子元器件内部结构的完整性,它可以检测出电子元器件内部的缺陷,如焊点完整性、焊接质量、组件尺寸等问题。这些缺陷都是通过X射线的检测结果而得出的,因此X-RAY检测的准确度和可靠性都很高。

  AOI检测主要是利用光学技术来检测电子元器件的外观特征,它可以检测出电子元器件外部的缺陷,比如焊点完整性、表面质量、尺寸偏差等。AOI检测采用的是光学技术,因此准确度和可靠性都不如X-RAY检测。
  X-RAY检测和AOI检测都是由自动检测系统来完成的,它们都可以用于检测电子元器件的质量。两者在检测目标和检测原理上都存在着差异,这是它们之间最明显的区别。
  X-RAY检测主要是通过X射线来检测电子元器件内部结构的完整性,它可以检测出电子元器件内部的缺陷,如焊点完整性、焊接质量、组件尺寸等问题。这些缺陷都是通过X射线的检测结果而得出的,因此X-RAY检测的准确度和可靠性都很高。
  AOI检测主要是利用光学技术来检测电子元器件的外观特征,它可以检测出电子元器件外部的缺陷,比如焊点完整性、表面质量、尺寸偏差等。AOI检测采用的是光学技术,因此准确度和可靠性都不如X-RAY检测。

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