卓茂科技为您提供x-ray无损探伤检测的解决方案，xray半导体缺陷检测、IC芯片缺陷检测，半导体内部气泡缺陷无损探伤，推荐使用卓茂IGBT半导体缺陷x-ray检测设备。
　　x-ray检测半导体缺陷设备
　　这款IGBT半导体缺陷检测设备，通过发射X光检测半导体内部缺陷，帮助企业进行批量检测，导入预先制作程序，实现快速自动定位功能，方便企业大批量检测及产品系列管理。
　　IGBT半导体缺陷检测。无损探伤X光检测样片
　　IGBT半导体模块X光检测，xray无损缺陷检测样片
　　xray半导体缺陷检测设备的功能全面，卓茂自主开发的X射线图像分析软件，包含图像对比增强和滤波功能、测量功能、CNC宏指令数控编程功能。