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缺陷检测≤1μm!卓茂科技XCT8500,让微观检测更智能
2026-06-12
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在精密制造领域,产品内部结构的微小缺陷往往难以察觉。卓茂科技推出的XCT8500工业CT/3D X射线检测设备,以无损检测技术为高端制造赋能,让微观缺陷清晰可见。

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亚微米级精准洞察

XCT8500采用开放式微焦点透射射线源,微焦点尺寸小于2μm,缺陷检测能力可达≤1μm。

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设备支持平面CT与锥束CT双模式,配合360°任意视角观察与自动跟随技术,确保检测区域始终居中。结合超分融合算法,微米级裂纹、气孔等特征得以清晰呈现。

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智能软件高效赋能

设备搭载自研智能检测软件,支持向导式模板编辑,简化操作流程。通过图像增强与预设滤镜,有效提升缺陷识别率。

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多领域广泛应用

XCT8500广泛适用于SMT与电子制造,可检测BGA、IGBT等封装器件;在半导体领域,支持晶圆、3D IC接线及TSV硅通孔分析;

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此外,还可用于汽车电子微控制器、PCB钻孔残铜检测及各类科研分析场景,为工艺优化提供可靠数据支撑。

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多重防护安全无忧

设备配备实时辐射监控、安全互锁及空闲自动关源等多重防护机制,保障操作人员安全。结合智能拼图导航功能,可快速定位检测区域,大幅提升检测效率。

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卓茂科技XCT8500以高精度成像与智能分析,为精密制造提供可靠的无损检测方案,助力企业提升产品品质与可靠性。

如需试样、看机或定制方案,欢迎咨询:张经理 13602663520。