欢迎来到【深圳市卓茂科技有限公司】官方网站!

返回上一页

卓茂科技X射线检测技术为x-ray设备有效检测高密度封装芯片提供成熟方案

  高密度芯片封装技术的兴起给测试和检验带来了更大的挑战。X射线技术是检测领域的更大变革。从AOI检查的出现到X射线检测技术的变化,X射线可以有效地检测每个电子组件,例如IC芯片,pcba电路板,锂电池,BGA和半导体电子组件。
  如今,X-RAY检测设备已广泛用于工业生产领域。为了确保焊接完成后电子元件的质量,对无形焊点进行了无损检测,这也保证了电子组件质量的必要手段。
  随着当今半导体封装组件的日益小型化,X射线检测设备探测器的精度需要满足未来趋势的需求。因此,我们需要具有足够放大倍率的检测设备来分析缺陷。
  卓茂科技对于工业X-Ray设备的分辨率要求极高,利用其速度快,灵敏度高的优势在工业应用领域提供了十分成熟的方案,这也是当今更流行的成像方式,为客户提供最专业的服务是卓茂人的追求。


X-Ray检测设备应用于检测BGA焊点缺陷

X-Ray检测设备应用于检测BGA焊点缺陷

与其他点焊不同,BGA焊点的焊球隐藏在板底,因此传统的视觉检测方法无法检测到。常用的检测方法是X-ray检测系统。BGA...

2023-04-11

深圳市卓茂科技有限公司  All Rights Reserved   备案号: 粤ICP备10051678号      法律声明   隐私声明

返回顶部