客户案例
nanoVoxel2000型工业CT三维扫描综合分析系统
型号: nanoVoxel2000
产品详情

技术指标

1. 系统总体指标

1.1 分辨率≤3μm;

1.2可扫描样品的最大直径≥300mm

1.3支持多种扫描成像模式:DR,圆轨迹锥束CT,超视野锥束CT,有限角锥束CT

2.X射线源

2.1 类型:封闭式反射靶微焦点X射线源

2.2 管电压:40kV~150kV

2.3 最大输出功率:30W

3. 探测器系统

3.1数字平板探测器

非晶硅数字平板探测器:

• 成像面积:145.4mm×114.9mm

• 像素矩阵:1944×1536

• 感光单元尺寸:74.8μm

• 动态范围:14bit

4.机械系统

4.1最大SDD,660mm以上;

4.2样品台X轴(调节放大比)行程550mm;

4.3样品台Z轴(升降配合螺旋扫描)行程300mm;

4.4高精度转台 360度连续转动;

4.5探测器Y轴(抖动去除伪影及实现偏置扫描)行程:300mm;

5. 计算机系统

5.1数据采集计算机:i5四核处理器,内存8G,硬盘2TB,24寸液晶显示器,操作系统Windows 7

5.2数据采集计算机:i7四核处理器,内存64G,硬盘3TB,24寸液晶显示器,操作系统Windows 7

6. 软件系统

6.1 图像采集软件

6.1.1控制及图像数据处理功能

-扫描系统由软件进行全自动控制

-自动计算调整样品旋转中心

-几何扫描参数获取功能,包括射线源距样品,射线源距探测器距离

-样品穿透率计算,为测试条件的选择提供依据


-根据扫描样品的几何位置数据及探测器类型自动计算当前所用分辨率


-可实现扫描系统空间位置自动标定

-扫描图像加减乘除等图像运算

-尺寸测量感兴趣区域

-可通过灰度直方图拉伸,突出显示感兴趣区域

6.1.2 多种扫描模式和扩展数据采集功能

-支持动态标清DR成像和静态高清图像DR成像

-支持螺旋轨迹、偏置、有限角、局部聚焦等多种模式扫描,实现细长物体、大物体、板状物、感兴趣区域等成像功能

-通过向导方式,辅助用户生成个性化数据采集协议

-通过脚本语言,支持用户编制个性化数据采集协议

-通过脚本语言,用户可自行编制个性化数据采集协议

-通过个性化数据采集协议,可实现用户多任务自动检测

-通过辅助工具,用户可对自行编制的各种个性化数据采集协议进行管理、查询、调用

6.1.3校正功能

-探测器单元对不同能量射线响应不一致的校正

-射线源锥束流强分布不均匀的校正

-采用探测器随机抖动的方式进行环状伪影的校正

6.2   3D图像重构软件

6.2.1具有解析法和自适应迭代法两种重建算法,具备GPU加速功能,图像矩阵1024×1024×768,解析算法重构时间1分钟内,自适应迭代重构时间3分钟内

6.2.2具有几何扫描参数获取功能,通过读取样品的扫描数据,可获取样品扫描过程中系统中射线源焦点、探测器、样品转台之间的所有物像位置关系参数

6.3 3D图像浏览和分析软件:具有三维渲染显示与任意截面剖切功能,可以进行三维MPR显示,生成三维图像旋转、平移、缩放、剖切等漫游视频

7. 防护箱体

7.1天然大理石运动平台基座

7.2 X射线开启显示功能,门机联动安全锁

7.3 在距离箱体20mm的任何位置,所测射线剂量当量率小于1μSv/h

7.4 具有可视透明窗口,便于在设备运行过程中可以直接从窗口观察到样品情况

8. 附件

8.1 样品夹持器:具有夹片式、夹钳式、十字式、柱式4种不同形状的夹持器